所属单位：分析测试中心
放置地点：大学城校园-理9栋
仪器负责人：余红华(136****6095)、曾丽珍(189****7492)
使用状态： 空闲
设备状态： 关机
- 基本信息
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- 服务评价
- 预约时间
电子枪 冷场发射 (亮度：2.4×109 A /cm2 srad) 加速电压 80KV、200KV 点分辨率 0.24nm STEM 分辨率 0.14 nm ，100 pA 信息分辨率 0.11nm 洛伦兹模式分辨率 2.2nm
1、粉末样品：为避免粉末脱落污染电镜，粒径需小于1um。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察；高分辨样品要求厚度小于20 nm，普通碳支持膜厚度通常为10-20 nm，高分辨观察推荐用超薄碳网。 2、薄膜样品：厚度一般需小于50nm，因材料而异； 3、其它类样品须自行制样处理；校内测试一般不接受委托制样，但可提供制样指导。使用水分散的粉末样品请提前一天制样并在干燥箱中干燥保存。 4、拒绝接受强磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品、以及易被电磁透镜吸引的粉末样品。 求 磁性颗粒很容易吸附到物镜上，污染镜筒光路，造成电镜不可修复性损伤。禁止此类样品本机测试！ 具有磁畴的薄膜材料通过FIB制样后可以在洛伦兹模式下观察。
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